太阳城下载下载地址苹果版

供应商：优尼康科技有限公司

太阳城下载下载地址苹果版 测量厚度从1nm到10mm的先进膜厚测量系统如果您正在寻找一款仪器，需要测量厚度、测量光学常数或者仅需要测量材料的反射率和穿透率，F20您值得拥有。仅仅几分钟内就可以安装好，通过USB与电脑连接，测量数据结果不到一分钟就能得到。

供应商：济南赛成电子科技有限公司

◎ 微电脑控制系统，大液晶显示、PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看。  ◎ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制。  ◎ 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差。  ◎ 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择。 ◎ 系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。 ◎ 实时显示测量结果的zuida值、zui小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断。 ◎ 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性。  ◎ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果。  ◎ 标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据。

供应商：上海沪粤明科学仪器有限公司

基于各种物质的分子及其结构，对不同波长的单色光呈现选择性吸收的特性。本仪器在紫外可见光光谱范围内，可对物质成分及含量进行定性和定量分析，它在化工、医学、生物、农业、食品、环境保护、珠宝、玻璃、古董等方面应用广泛。

供应商：优尼康科技有限公司

自动化薄膜厚度绘图系统Filmetrics F50 系列的产品能以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度。一个电动R-Theta 平台可接受标准和客制化夹盘，样品直径可达450毫米。(耐用的平台在我们的量产系统能够执行数百万次的量测!)測绘圖案可以是极座標、矩形或线性的，您也可以创造自己的测绘方法，并且不受测量点数量的限制。內建数十种预定义的测绘圖案。

太阳城下载下载地址苹果版供应商：北京卓立汉光仪器有限公司

OPTM 系列显微分光膜厚仪使用显微光谱法在微小区域内通过JD反射率进行测量，可进行高精度膜厚度/光学常数分析。

供应商：滨松光子学商贸（中国）有限公司

本产品的便携性使其可以在任何地方进行简单而高精度的测试和评估。其与EX-400&EX-86U准分子灯具备同样的工作表现，并专为R&D在线操作设计而成。因此，可直接将EX-mini中获得的评估结果用于在线操作任务中。

供应商：滨松光子学商贸（中国）有限公司

太阳城下载下载地址苹果版 带有内部电源的“一体机”式设计实现了紧凑、质量轻的结构，从而不需要选择特定空间，免去了安装上的麻烦，可以轻松地在生产现场进行设置。在线使用中的高通用性使得EX-86U十分容易装配入现有的线路、重新部署的生产线等。

供应商：滨松光子学商贸（中国）有限公司

太阳城下载下载地址苹果版 使用扁平长灯和RF（射频）放电可在大面积上均匀照射并减少闪烁，从而提供稳定的输出。 与电晕放电法，等离子体法，甚至其他准分子灯相比，EX-400可确保高精度，高质量的修改，清洁和粘合。

供应商：滨松光子学商贸（中国）有限公司

C12570系列是孔洞检测装置，用于检测层压薄膜和金属箔中的孔洞。 由于采用非接触式光学检测，被检测的样品不会暴露在液体或特殊环境的压力中（例如电场、磁场和电解质溶液）。 C12570系列采用高灵敏度的光电倍增管，可以高精度地检测微小的孔洞。

供应商：滨松光子学商贸（中国）有限公司

C11740是一种孔洞检测装置，专门用于检测罐中的孔洞，内部包含一个高灵敏度光学传感器（光电倍增管），可以高速，高精度地检测微小的孔洞。可测量参数包括一个大面积光敏区域和一个强光保护电路，该保护电路非常适合孔洞检测。 C11740外部控制输入/输出装置可以让操作者轻松地对在线检测和其他检测进行设置。

太阳城下载下载地址苹果版供应商：滨松光子学商贸（中国）有限公司

C11011-01型光学微米膜厚测量仪利用激光相干度量学原理，测量速度达60Hz，适用于产品线上在线测量。此外，与mapping工作台联用可以测量指定样品的厚度分布。C11011-01应用广泛，比如用于产品制造过程监控或质量控制。 C11011-01可测玻璃膜厚范围分别为25 μm 到2200 μm 和 10 μm 到 900 μm.

供应商：滨松光子学商贸（中国）有限公司

C11011-01W型光学微米膜厚测量仪利用激光相干度量学原理，测量速度达60Hz，适用于产品线上在线测量。此外，与Mapping工作台联用可以测量指定样品的厚度分布。C11011-01W应用广泛，比如用于产品制造过程监控或质量控制。C11011-01W测量玻璃膜厚范围分别为25 μm 到 2900 μm 和10 μm 到1200 μm。

供应商：滨松光子学商贸（中国）有限公司

C11295型多点纳米膜厚测量系统使用光谱相干测量学，用以测量半导体制造过程中的薄膜厚度，以及安装在半导体制造设备上的APC和薄膜的质量控制。C11295可进行实时多点测量，也可以在膜厚测量中同时测量反射率（透射率）、目标颜色以及暂时变化。

供应商：滨松光子学商贸（中国）有限公司

太阳城下载下载地址苹果版 C13027型光学纳米膜厚测量系统是一款利用光谱干涉法测量薄膜厚度的非接触式测量系统。C13207不仅支持PLC连接，而且其设计尺寸比其他型号更紧凑，便于设备安装。Optical Gauge系列不仅能够测量10纳米以下极薄薄膜的厚度，而且还具有超宽测量范围，可以覆盖从10纳米到100微米的各种薄膜厚度。 Optical Gauge系列可以进行高达200 Hz的快速测量，因此非常适合高速生产线测量。

太阳城下载下载地址苹果版供应商：滨松光子学商贸（中国）有限公司

太阳城下载下载地址苹果版 C12562型光学纳米膜厚测量系统是一款小型紧凑、节省空间、安装方便的非接触式薄膜厚测量系统。在半导体工业中，硅通孔技术的普及使得硅厚度测量变得必不可少；在薄膜生产工业中，越来越高的产品需求使得粘合层薄膜的制作朝着越来越薄的方向发展。因此，这些工业领域需要更高精度、测量范围可以覆盖1μm到300μm的厚度测量系统。C12562可以对厚度范围从0.5μm到300μm的薄膜进行精确测量，包括薄膜镀层厚度和薄膜衬底厚度以及总厚度。C12562可以进行高达100 Hz的快速测量，因此非常适合高速生产线测量。

供应商：滨松光子学商贸（中国）有限公司

太阳城下载下载地址苹果版 C10178型光学纳米膜厚测量系统是一款利用光谱干涉法测量薄膜厚度的非接触式测量系统。光谱干涉法可以快速、高精度以及高灵敏度地测量出薄膜厚度。滨松的产品使用多通道光谱仪PMA作为检测器，测量各种光学滤光片和涂膜厚度的同时还可以测量量子产率，反射率，透射/吸收率等参数。 C10178-02支持UV（200 nm至950 nm）。

太阳城下载下载地址苹果版供应商：滨松光子学商贸（中国）有限公司

C10178型光学纳米膜厚测量系统是一款利用光谱干涉法测量薄膜厚度的非接触式测量系统。光谱干涉法可以快速、高精度以及高灵敏度地测量出薄膜厚度。C13027使用多通道光谱仪PMA作为检测器，测量各种光学滤光片和涂膜厚度的同时还可以测量量子产率，反射率，透射/吸收率等参数。 C10178-03J支持NIR（900 nm至1650 nm）。

供应商：滨松光子学商贸（中国）有限公司

C10178型光学纳米膜厚测量系统是一款利用光谱干涉法测量薄膜厚度的非接触式测量系统。光谱干涉法可以快速、高精度以及高灵敏度地测量出薄膜厚度。我们的产品使用多通道光谱仪PMA作为检测器，测量各种光学滤光片和涂膜厚度的同时还可以测量量子产率，反射率，透射/吸收率等参数。 C10178-03E支持NIR（900 nm至1650 nm） (AC200 V to AC240 V, 50 Hz / 60 Hz)

供应商：滨松光子学商贸（中国）有限公司

太阳城下载下载地址苹果版 C11011-21型光学微米膜厚测量仪利用激光干涉法原理，测量速度达60Hz，适用于产品在线测量。此外，选配的作图系统可以用于测量指定样品的厚度分布。C11011-01W应用广泛，比如用于产品制造过程监控或质量控制。C11011-21可测玻璃膜厚范围分别为25 μm 到2200 μm 和10 μm 到 900 μm，可测层数zui多为10层。

太阳城下载下载地址苹果版供应商：滨松光子学商贸（中国）有限公司

C11011-21W型光学微米膜厚测量仪利用激光干涉法原理，测量速度达60Hz，适用于产品线上在线测量。此外，与mapping工作台联用可以用于测量指定样品的厚度分布。C11011-21W应用广泛，比如用于产品制造过程监控或质量控制。 C11011-21W可测玻璃膜厚范围分别为25 μm 到2900 μm 和10 μm 到 1200 μm，可测层数zui多为10层。

供应商：滨松光子学商贸（中国）有限公司

C12562 纳米膜厚测量仪系列C12562型光学膜厚测量仪是一款利用光谱相干度量学工作的非接触型膜厚测量系统。光学膜厚测量仪系列可以测量薄至10nm的薄膜，而可测范围达到10nm到1100μm，因此可用来测量多种目标。此外，该测量仪可达到100Hz的高速测量，因此可进行快速移动的产品线进行测量。欢迎您登陆滨松ZG全新中文网站http://www.hamamatsu.com.cn/查看该产品更多详细信息!特性可测量10nm薄膜缩短测量周期（频率高达100Hz）增强型外部触发（适合高速测量）涵盖宽波长范围（

太阳城下载下载地址苹果版供应商：滨松光子学商贸（中国）有限公司

太阳城下载下载地址苹果版 C10178-01 纳米膜厚测量仪系列C10178-01型光学膜厚测量仪是一款利用光谱相干度量学工作的非接触型膜厚测量系统。通过光谱相干，可快速、高灵敏度、高准确度地测量膜厚。由于使用我公司的光子多通道分析仪（PMA）为探测器，在测量多种滤光片、镀膜等的膜厚的同时，还可以测量量子收益、反射率、透射率以及吸收系数等多种项目。欢迎您登陆滨松ZG全新中文网站http://www.hamamatsu.com.cn/查看该产品更多详细信息!特性高速、高准确度实时测量映射功能不整平薄膜精确测量分析光学常数（n,k）可

供应商：滨松光子学商贸（中国）有限公司

C11627-01 纳米膜厚测量仪系列C11627-01型光学膜厚测量仪是一款利用光谱相干度量学工作的非接触型膜厚测量系统。因其将光源、分光光度计和数据分析单元集成为一个单元，所以其配置紧凑，仅由一个主单元和光纤组成。此仪器设计紧凑，节省空间，适合安装进用户的系统中，可进行多种目标的测量。此外，该仪器为无参照物测量，因此省略了烦人的参照物测量，可长时间稳定地进行高速、高准确度测量。欢迎您登陆滨松ZG全新中文网站http://www.hamamatsu.com.cn/查看该产品更多详细信息!特性无参照物工作

太阳城下载下载地址苹果版供应商：滨松光子学商贸（中国）有限公司

C11011-01W 微米膜厚测量仪C11011-01W型光学微米膜厚测量仪利用激光相干度量学原理，测量速度达60Hz，适用于产品线上在线测量。此外，选配的映射系统可以测量指定样品的厚度分布。C11011-01W应用广泛，比如用于产品制造过程监控或质量控制。欢迎您登陆滨松ZG全新中文网站http://www.hamamatsu.com.cn/查看该产品更多详细信息!特性利用红外光度测定进行非透明样品测量测量速度高达60 Hz测量带图纹晶圆和带保护膜的晶圆长工作距离映射功能可外部控制参数型号C11011-0

供应商：滨松光子学商贸（中国）有限公司

C11665-01 微米膜厚测量仪C11665-01型光学微米测厚仪是一款非接触薄膜测厚仪器，它将光源、探测器和数据分析模块集成到一个箱体里，实现了紧凑型设计。在半导体行业，TSV技术的广泛应用使得基底测厚成为至关重要的方面，与此同时半导体薄膜工业正将连接层制作的越来越薄。这些领域的进步需要1 μm到300 μm范围内高准确度的膜厚测量。C11665-01可对多种类型的材料（硅基底，薄膜等等）进行测厚，测量范围为0.5 μm 到 700 μm，这也是半导体和薄膜制造领域经常使用应用的厚度。欢迎您登陆滨松Z

供应商：滨松光子学商贸（中国）有限公司

C11295 多点纳米膜厚测量仪C11295型多点纳米膜厚测量系统使用光谱相干测量学，用以测量半导体制造过程中的薄膜厚度，以及安装在半导体制造设备上的APC和薄膜的质量控制。C11295可进行实时多点测量，也可以在膜厚测量中同时测量反射率（透射率）、目标颜色以及暂时变化。欢迎您登陆滨松ZG全新中文网站http://www.hamamatsu.com.cn/查看该产品更多详细信息!特性多达15点同时测量无参照物工作通过光强波动校正功能实现长时间稳定测量提醒及警报功能(通过或失败)反射(透射)和光谱测量高速、

供应商：优尼康科技有限公司

太阳城下载下载地址苹果版 F10-AR 是为简便而经济有效地测试眼科减反涂层设计的**台仪器。 虽然价格大大低于当今绝大多数同类仪器，应用几项du家先进技术， F10-AR 使线上操作人员经过几分钟的培训，就可以进行厚度测量。

供应商：优尼康科技有限公司

动化薄膜厚度分布图案系统依靠F54先进的光谱测量系统，可以很简单快速地获得zuida直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台，可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度，测试非常快速，大约每秒能测试两点。系统中预设了许多极坐标形、方形和线性的图形模式，也可以编辑自己需要的测试点。只需掌握基本电脑技术便可在几分钟内建立自己需要的图形模式。

供应商：深圳市蓝星宇电子科技有限公司

太阳城下载下载地址苹果版 只需按下一个按钮，您在不到一秒钟的同时测量厚度和折射率。设置同样简单, 只需插上设备到您运行Windows™系统计算机的USB端口, 并连接样品平台 。

供应商：优尼康科技有限公司

太阳城下载下载地址苹果版 F3-sX家族利用光谱反射原理，可以测试众多半导体及电解层的厚度，可测zuida厚度达3毫米。此类厚膜，相较于较薄膜层表面较粗糙且不均匀，F3-sX系列配置10微米的测试光斑直径因而可以快速容易的测量其他膜厚测试仪器不能测量的材料膜层。而且仅在几分之一秒内完成。

太阳城下载下载地址苹果版供应商：北京亚科晨旭科技有限公司

纳米尺度的表面轮廓测量、薄膜厚度测量、表面形貌测量、应力测量和平整度等精密测量，应用于微电子、半导体、太阳能、高亮度LED、触摸屏、YL、太阳城下载下载地址苹果版和材料科学领域

供应商：滨松光子学商贸（中国）有限公司

太阳城下载下载地址苹果版 C10323型光学纳米膜厚测量系统是一款微观厚度测量系统。 在宏观层面上无法测量具有不规则表面的物体，因为这些物体会产生高强度的散射光。 对于这些类型的物体，测量小面积可减少散射光，从而实现测量。 C10323-02的电源电压为AC100 V至AC120 V。

供应商：滨松光子学商贸（中国）有限公司

太阳城下载下载地址苹果版 C10323型光学纳米膜厚测量系统是一款微观厚度测量系统。 在宏观层面上无法测量具有不规则表面的物体，因为这些物体会产生高强度的散射光。 对于这些类型的物体，测量小面积可减少散射光，从而实现测量。 C10323-02E的电源电压为AC100 V至AC120 V。

太阳城下载下载地址苹果版供应商：北京创诚致佳科技有限公司

太阳城下载下载地址苹果版 由Ray-ran公司专门设计的精密测厚仪可快速、准确地测量各种材料的厚度，包括胶卷、纸、板、铝箔、组织和纺织品等。通过 - -个直观的触摸屏界面操作,用户可以自定义批量大小，测量速度快、简单GX。.

供应商：北京亚科晨旭科技有限公司

太阳城下载下载地址苹果版 Bruker’s Hysitron TI 980 TriboIndenter 海思创TI 980 TriboIndenter纳米压痕仪是布鲁克先进的纳米力学测试设备，同时具有高的性能、灵活性、可信度、实用性和速度。TI 980纳米压痕仪是布鲁克海思创纳米压痕设备的产品。

太阳城下载下载地址苹果版供应商：北京亚科晨旭科技有限公司

太阳城下载下载地址苹果版 TS 77 Selec产自动台式纳米力学和纳米摩擦测试系统提供了同级别仪器中高的测试性能，功能性和易用性。基千布鲁克zhu 名的Triboscop铲电容式传感器技术，这套新的测试系统支持从纳米到微米尺度的可靠的力学和摩擦学表征。